液晶面板測試模組及液晶面板失效模式分析方法 1065     

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一種液晶面板測試模組及一種液晶面板失效模式分析方法,其中液晶面板測試模組包含:驅動電路、測試電路以及若干個開關。其中驅動電路包含:若干個信號輸入線及若干個信號輸出線,信號輸出線包含第一信號輸出線群組、第二信號輸出線群組和第三信號輸出線群組;測試電路包含第一測試信號線、第二測試信號線和第三測試信號線,分別與第一信號輸出線群組、第二信號輸出線群組和第三信號輸出線群組電連接;以及若干個開關分別位于第一測試信號線、第二測試信號線和第三測試信號線與每一信號輸出線之間。

高探測EOS異常失效分析系統(tǒng) 948     

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本實用新型公開了一種高探測EOS異常失效分析系統(tǒng)，包括AC電源、電源EMI濾波器、示波器，所述電源EMI濾波器通過測試線與AC電源連接，所述電源EMI濾波器與示波器連接，所述電源EMI濾波器與示波器之間設有歐姆電阻線，使用高探測EOS異常的失效分析系統(tǒng)可以對通電后的生產整個流程中的ESD異?，F象進行分析，查找出生產狀態(tài)時的異常點，更能找到根本原因并實現預防解決問題。

電子產品的可靠性失效分析檢測方法 855     

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本發(fā)明公開了一種電子產品的可靠性失效分析檢測方法，包括以下步驟：S1、在電子產品元件上安裝溫度、電流和電壓監(jiān)測裝置；S2、將電子產品元件額定范圍輸入分析檢測單元并作為第一數據；S3、溫度、電流和電壓監(jiān)測裝置對電子產品元件實時數據檢測并上傳；S4、上述數據在分析檢測單元中與額定范圍值的最大值進行比較計算，超出額定值關閉電子產品元件；S5、將失效數據通過失效數據顯示單元進行顯示。本發(fā)明分析檢測方法簡單明了，通過數次檢測即可得出影響電子產品元件可靠性的主要原因，并針對性的進行改進，提高電子產品元件使用的可靠性，延長電子產品元件使用壽命，適合進行推廣。

電容失效分析檢測方法 709     

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本發(fā)明涉及一種電容失效分析檢測方法，包括如下步驟：外觀檢查；內視檢測，通過探傷檢測設備對失效電容進行失效點定位，并確定失效點位置；初步確認失效原因，根據失效點位置列出可能的失效原因；模擬試驗，根據失效原因對良品電容進行針對性的通電模擬，驗證可能的失效原因，并將良品電容在失效損毀后的失效點情況與失效電容的失效點位置進行比對，確定失效原因；金相檢測，將失效電容制成失效點位置的金相切片并在金相顯微鏡下觀察確認，再使用掃描電鏡和能譜分析儀對金相切片進行掃面分析，驗證確定電容失效損毀原因并給出分析結論。本發(fā)明能夠快速、高效地確認電容失效的根本原因，通過電容失效分析實現對于電子系統(tǒng)的工作可靠性的提高。

新型集成電路失效分析檢測方法 684     

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本申請實施例涉及一種新型集成電路失效分析檢測方法。根據本申請的一實施例，新型集成電路失效分析檢測方法包括：對集成電路組件進行封膠以得到包含新型集成電路的膠柱體，其中集成電路組件包括晶片和襯底，襯底具有第一表面和與第一表面相對的第二表面，晶片位于襯底的第一表面上；以及從靠近襯底的第二表面的膠柱體的底面進行研磨至暴露襯底。本申請實施例提供的新型集成電路失效分析檢測方法可有效解決傳統(tǒng)技術中遇到的問題。