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新型集成電路失效分析檢測方法

685   編輯:管理員   來源:中冶有色技術(shù)網(wǎng)  
2023-03-19 08:59:29
本申請(qǐng)實(shí)施例涉及一種新型集成電路失效分析檢測方法。根據(jù)本申請(qǐng)的一實(shí)施例,新型集成電路失效分析檢測方法包括:對(duì)集成電路組件進(jìn)行封膠以得到包含新型集成電路的膠柱體,其中集成電路組件包括晶片和襯底,襯底具有第一表面和與第一表面相對(duì)的第二表面,晶片位于襯底的第一表面上;以及從靠近襯底的第二表面的膠柱體的底面進(jìn)行研磨至暴露襯底。本申請(qǐng)實(shí)施例提供的新型集成電路失效分析檢測方法可有效解決傳統(tǒng)技術(shù)中遇到的問題。
聲明:
“新型集成電路失效分析檢測方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)
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