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基于陣列激光源的結(jié)構(gòu)表面裂紋紅外無損檢測(cè)及成像方法

626   編輯:管理員   來源:中冶有色技術(shù)網(wǎng)  
2023-03-19 08:57:52
一種基于陣列激光源的結(jié)構(gòu)表面裂紋紅外無損檢測(cè)及成像方法,首先利用激光擴(kuò)束鏡將脈沖激光器產(chǎn)生的激光源的光束擴(kuò)大成一個(gè)直徑為數(shù)厘米的準(zhǔn)直激光束,然后利用m×n個(gè)陣列凸透鏡將該激光束聚焦到被測(cè)試件表面形成半徑小于1毫米的、均勻分布陣列激光光斑,然后由紅外相機(jī)監(jiān)測(cè)被陣列脈沖激光源照射的被測(cè)試件表面的溫度場(chǎng)分布變化情況;當(dāng)試件表面被照射區(qū)域存在裂紋時(shí),裂紋會(huì)阻礙激光輻射的熱量在表面的擴(kuò)散,從而在裂紋兩側(cè)形成一個(gè)大的溫度差。因此最后可通過被照射區(qū)域的溫度梯度場(chǎng)來對(duì)試件表面裂紋進(jìn)行檢測(cè)和成像;本發(fā)明具有系統(tǒng)結(jié)構(gòu)簡單、易實(shí)現(xiàn)、易操作、檢測(cè)速度快、靈敏度高、結(jié)果直觀、能夠?qū)崿F(xiàn)遠(yuǎn)距離檢測(cè)等優(yōu)點(diǎn)。
聲明:
“基于陣列激光源的結(jié)構(gòu)表面裂紋紅外無損檢測(cè)及成像方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)
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