一種精確測量波片相位延遲量的方法,屬波片參數(shù)測量技術領域,該裝置包括光源,光闌、起偏器、待測波片、檢偏器、光譜儀和計算機,通過測量出第一光譜強度I1(λ)的分布曲線和第二光譜強度I2(λ)的分布曲線,得到歸一化光譜透過率T(λ)曲線。再根據(jù)透過率為定值的直線與所述歸一化光譜透過率T(λ)曲線的交點波長,利用計算機計算出待測波片相位延遲量和其他多個物理參數(shù)。本發(fā)明是一種非接觸無損測量技術,通過測量可一次性獲得寬光譜范圍內(nèi)待測波片的絕對相位延遲量、有效相位延遲量、厚度、級次等多個物理參數(shù),本方法測量精度高,測量裝置易于調(diào)節(jié),對于起偏器、待測波片和檢偏器的方位無嚴格要求,適用于非復合型晶體波片的測量。
聲明:
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