權(quán)利要求書(shū)： 1.一種超聲波探傷儀探頭，它包括外殼、阻尼塊、吸收塊和晶片，晶片固定在阻尼塊上，其特征在于：在所述外殼內(nèi)設(shè)置有腔體，阻尼塊通過(guò)一根轉(zhuǎn)軸可轉(zhuǎn)動(dòng)設(shè)置在腔體內(nèi)，轉(zhuǎn)軸的一端伸出外殼后設(shè)置一個(gè)標(biāo)尺，在外殼的上方設(shè)置一個(gè)弧形刻度板，所述標(biāo)尺的前端設(shè)置有指示針；所述腔體內(nèi)設(shè)置液體介質(zhì)。
2.如權(quán)利要求1所述的超聲波探傷儀探頭，其特征在于，在所述弧形刻度板的每個(gè)刻度下方對(duì)應(yīng)設(shè)置一個(gè)凹槽，所述標(biāo)尺上設(shè)置一個(gè)與凹槽對(duì)應(yīng)的凸起。
3.如權(quán)利要求2所述的超聲波探傷儀探頭，其特征在于，所述凹槽和凸起均為圓形。
4.如權(quán)利要求2所述的超聲波探傷儀探頭，其特征在于，所述凸起為圓球，在圓球的后方設(shè)置彈性墊。
5.如權(quán)利要求4所述的超聲波探傷儀探頭，其特征在于，所述彈性墊為硅膠墊。
6.如權(quán)利要求1?5中任一項(xiàng)所述的超聲波探傷儀探頭，其特征在于，所述弧形刻度板上的刻度從左到右依次為0?60度刻度線。
說(shuō)明書(shū)： 超聲波探傷儀探頭技術(shù)領(lǐng)域[0001] 本實(shí)用新型涉及一種超聲波探傷儀探頭。背景技術(shù)[0002] 超聲波探傷儀能夠快速、便捷、無(wú)損傷、精確地進(jìn)行工件內(nèi)部多種缺陷(裂紋、疏松、氣孔、夾雜等)的檢測(cè)、定位、評(píng)估和診斷。在使用超聲波探傷儀時(shí)，需要根據(jù)檢測(cè)物體來(lái)選擇探頭種類，目前探頭有直探頭、斜探頭和可變角度探頭。可變角度探頭，允許用戶調(diào)節(jié)晶片的入射角度。可調(diào)節(jié)范圍從0度到90度，隨著晶片入射角度的改變，在被檢測(cè)的工件中產(chǎn)生相應(yīng)折射角的縱波、橫波或者表面波。[0003] 但目前的可變角度探頭內(nèi)部結(jié)構(gòu)復(fù)雜，且在調(diào)整可變角度時(shí)刻度線對(duì)齊容易產(chǎn)生誤差，影響測(cè)量結(jié)果。實(shí)用新型內(nèi)容
[0004] 針對(duì)上述現(xiàn)有技術(shù)的不足，本實(shí)用新型提供了一種結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單，可準(zhǔn)確調(diào)節(jié)角度的超聲波探傷儀探頭。[0005] 本實(shí)用新型解決其技術(shù)問(wèn)題所采用的技術(shù)方案是：一種超聲波探傷儀探頭，它包括外殼、阻尼塊、吸收塊和晶片，晶片固定在阻尼塊上，在所述外殼內(nèi)設(shè)置有腔體，阻尼塊通過(guò)一根轉(zhuǎn)軸可轉(zhuǎn)動(dòng)設(shè)置在腔體內(nèi)，轉(zhuǎn)軸的一端伸出外殼后設(shè)置一個(gè)標(biāo)尺，在外殼的上方設(shè)置一個(gè)弧形刻度板，所述標(biāo)尺的前端設(shè)置有指示針；所述腔體內(nèi)設(shè)置液體介質(zhì)。[0006] 進(jìn)一步的，在所述弧形刻度板上每個(gè)刻度下方對(duì)應(yīng)設(shè)置一個(gè)凹槽，所述標(biāo)尺上設(shè)置一個(gè)與凹槽對(duì)應(yīng)的凸起。[0007] 進(jìn)一步的，所述凹槽和凸起均為圓形。[0008] 進(jìn)一步的，所述凸起為圓球，在圓球的后方設(shè)置彈性墊。優(yōu)選的，彈性墊為硅膠墊。[0009] 優(yōu)選的，所述弧形刻度板上的刻度從左到右依次為0?60度刻度線。[0010] 本實(shí)用新型的有益效果是：它通過(guò)轉(zhuǎn)軸設(shè)置阻尼塊，使阻尼塊可以隨轉(zhuǎn)軸轉(zhuǎn)動(dòng)，從而調(diào)節(jié)晶片角度，內(nèi)部空腔加入液體介質(zhì)，保證晶片轉(zhuǎn)動(dòng)后不影響檢測(cè)結(jié)果，通過(guò)外設(shè)的弧形刻度板，使得刻度進(jìn)一步方法，提高了精準(zhǔn)度，而且，能夠增加圓球進(jìn)行角度的準(zhǔn)確定位，圓球后方設(shè)置彈性墊后使掰動(dòng)標(biāo)尺的操作更加順暢。附圖說(shuō)明[0011] 附圖1為本實(shí)用新型的整體結(jié)構(gòu)主視示意圖；[0012] 附圖2為本實(shí)用新型的內(nèi)部結(jié)構(gòu)示意圖(0度位置)；[0013] 附圖3為本實(shí)用新型的內(nèi)部結(jié)構(gòu)示意圖(60度位置)；[0014] 附圖4為本實(shí)用新型的凸起和彈性墊結(jié)構(gòu)示意圖。[0015] 圖中，外殼1、阻尼塊2、吸收塊3、晶片4、腔體5、轉(zhuǎn)軸6、標(biāo)尺7、弧形刻度板8、指示針9、凹槽10、凸起11、彈性墊12、保護(hù)層13、捏持部14。
具體實(shí)施方式[0016] 為了更好地理解本實(shí)用新型，下面結(jié)合附圖1?4來(lái)詳細(xì)解釋本實(shí)用新型的實(shí)施方式。[0017] 本實(shí)用新型的超聲波探傷儀探頭包括外殼1、阻尼塊2、吸收塊3和晶片4，晶片4固定在阻尼塊2上，吸收塊3位于外殼1內(nèi)的左側(cè)，吸收塊3還可以設(shè)置成現(xiàn)有的結(jié)構(gòu)，如斜楔結(jié)構(gòu)，在這里不再贅述。在所述外殼1內(nèi)設(shè)置有腔體5，腔體5的底部為保護(hù)層13，保護(hù)層13材質(zhì)與現(xiàn)有的超聲波探頭保護(hù)層相同即可。[0018] 一根轉(zhuǎn)軸6前后兩端轉(zhuǎn)動(dòng)設(shè)置在外殼1上，轉(zhuǎn)軸6穿過(guò)阻尼塊2，阻尼塊2通過(guò)轉(zhuǎn)軸6可轉(zhuǎn)動(dòng)設(shè)置在腔體5內(nèi)，轉(zhuǎn)軸6的一端伸出外殼1后設(shè)置一個(gè)直徑大于轉(zhuǎn)軸的圓形的捏持部14，在捏持部14上固定設(shè)置一個(gè)標(biāo)尺7，在外殼1的上方前側(cè)固定設(shè)置一個(gè)弧形刻度板8，具體的，弧形刻度板8與標(biāo)尺7所在的外殼1的面平齊，即使標(biāo)尺7能夠緊貼在弧形刻度板8上。
所述弧形刻度板8上的刻度從左到右依次為0?60度刻度線。當(dāng)然，刻度板上的刻度可以根據(jù)具體的外殼1大小和形狀設(shè)置更小或更大的刻度。所述標(biāo)尺7的前端設(shè)置有指示針9，指示針
9對(duì)準(zhǔn)刻度線。所述腔體5內(nèi)設(shè)置液體介質(zhì)，液體介質(zhì)可以采用水或油等介質(zhì)。
[0019] 為了使角度調(diào)節(jié)精確，本實(shí)用新型在所述弧形刻度板8的每個(gè)刻度下方對(duì)應(yīng)設(shè)置一個(gè)凹槽10，所述標(biāo)尺7上設(shè)置一個(gè)與凹槽10對(duì)應(yīng)的凸起11。本實(shí)施例優(yōu)選所述凹槽10和凸起11均為圓形。進(jìn)一步的，如圖4所示，所述凸起11為圓球，在圓球的后方設(shè)置彈性墊12，這樣在圓球受到擠壓后可以向后擠壓彈性墊12，使其縮回圓球槽內(nèi)。彈性墊優(yōu)選為硅膠墊。[0020] 盡管已經(jīng)示出和描述了本實(shí)用新型的實(shí)施例，對(duì)于本領(lǐng)域的普通技術(shù)人員而言，可以理解在不脫離本實(shí)用新型的原理和精神的情況下可以對(duì)這些實(shí)施例進(jìn)行多種變化、修改、替換和變型，本實(shí)用新型的范圍由所附權(quán)利要求及其等同物限定。
聲明：
“超聲波探傷儀探頭” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究，如用于商業(yè)用途，請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)
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編輯：中冶有色技術(shù)網(wǎng)
來(lái)源：董文林
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