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溫度梯度下Cu/Sn-xAg/Cu微焊點(diǎn)界面反應(yīng)研究
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溫度梯度下Cu/Sn-xAg/Cu微焊點(diǎn)界面反應(yīng)研究.pdf

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嘉賓:喬媛媛      單位:大連理工大學(xué)      行業(yè):冶金行業(yè)      所屬會(huì)議:異質(zhì)材料焊接與連接第四屆學(xué)術(shù)會(huì)議      地點(diǎn):重慶 - 重慶

等溫回流時(shí),微焊點(diǎn)兩側(cè)IMC呈對(duì)稱性生長,IMC生長受晶界擴(kuò)散控制;TG下回流時(shí),微焊點(diǎn)兩端IMC呈非對(duì)稱性生長,冷端界面IMC生長迅速,生長受反應(yīng)控制,熱端IMC生長受到抑制且保持薄層狀; Cu/Sn-5.0Ag/Cu在溫度梯度下回流時(shí),Ag原子向冷端遷移,并析出片狀A(yù)g3Sn,隨著回流時(shí)間延長,部分Ag3Sn會(huì)溶解,Ag原子固溶于Cu6Sn5中; Ag在全I(xiàn)MC焊點(diǎn)中:①Ag3Sn,②Ag固溶于Cu6Sn5 IMC中;   展開更多+

等溫回流時(shí),微焊點(diǎn)兩側(cè)IMC呈對(duì)稱性生長,IMC生長受晶界擴(kuò)散控制;TG下回流時(shí),微焊點(diǎn)兩端IMC呈非對(duì)稱性生長,冷端界面IMC生長迅速,生長受反應(yīng)控制,熱端IMC生長受到抑制且保持薄層狀; Cu/Sn-5.0Ag/Cu在溫度梯度下回流時(shí),Ag原子向冷端遷移,并析出片狀A(yù)g3Sn,隨著回流時(shí)間延長,部分Ag3Sn會(huì)溶解,Ag原子固溶于Cu6Sn5中; Ag在全I(xiàn)MC焊點(diǎn)中:①Ag3Sn,②Ag固溶于Cu6Sn5 IMC中;   收起+

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焊接 電子封裝 溫度梯度
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